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能谱仪的主要组成部分

简单说,就是根据射线粒子的能量,来分析物质的成份、含量.如γ射线能谱仪主要根据射线的能量判定核素,并分析放射性核素含量,在环境检测、辐射防护、反应堆监控等广泛应用.当光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对.产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),因此由一个X射线光子造成的空穴对的数目N=△E/ε.入射X射线光子的能量越高,N就越大.利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,电流脉冲的高度取决于N的大小.电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器,脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数,这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱.

扫描电镜基本结构:电子光学系统+真空系统+样品装载和移动系统+信号探测器系统+ 电气控制系统+ 计算机系统.电子束作为点光源帧扫描样品,并接收逐点生成的信号作为视频信号.视频信号的显示器尺寸固定,当调节电子束扫描区域大小

光电子能谱仪主要由6个部分组成:激发源、样品电离室、电子能量分析器、电子检测器、真空系统和数据处理系统等组成.激发源常用紫外辐射源和 X射线源.使用紫外辐射源作为激发源的称为紫外光电子能谱,使用X射线的称为X 射线光电子

能谱仪EnergyDispersiveXRaySpectroscopy,又可简写为EDX能谱仪是电子显微镜(扫描电镜、透射电镜)的重要附属配套仪器,结合电子显微镜,能够在13分钟之内对材料的微观区域的元素分布进行定性定量分析

能谱仪是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜使用.包括以下几指标:探头:一般为Si(Li)锂硅半导体探头探测面积:几平方毫米分辨率(MnKa):~133eV探测元素范围:Be4~U92使用范围:1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测;4、金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域; 5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析.

波谱仪和能谱仪的范围基本一样,在于波谱仪的分析定量精度要高于能谱仪,可以对重叠的谱峰进行分峰处理和分析.而能谱仪以快速分析见长.但是现在波谱仪也有了进步,分析起来已经很快,对于定量要求不高的样品,十几秒就够了.根据具体问题类型,进行步骤拆解/原因原理分析/内容拓展等.具体步骤如下:/导致这种情况的原因主要是……

能谱仪的三种扫描方式为:点 线 面即可以扫描一个点 沿一条线 照射一个面 来分析这三种区域的元素组成表面形态

谱仪其基本组成包括离子源、质量分析器、检测器和真空系统.离子源使试样分子或原子离子化,同时具有聚集和准直作用,使离子汇聚成具有一定几何形状和能量的离子束.质量分析器将离子源产生的离子按m/z的大小分离聚集,检测器种类较多,有单聚集质量分析器、双聚集质量分析器和四极杆质量分析器等.高真空系统为了降低背景以及减少离子间或离子与分子间的碰撞,离子源、质量分析器及检测器必须处于高真空状态

组成材料的原子受到适当能量的电子激发后,会“跃迁”到高能量状态,随后自然退激发,并放出“特征”x射线.所谓特征,即是说不同元素放出的x射线能量(也可以说是波长)都像指纹一样,与元素种类相对应.波谱或能谱测量特征x射线的波长或是能量,从而判断材料的元素组成

X射线能量分散谱仪(简称能谱仪或EDS) 能谱仪可应用于微区成分分析和样品中元素的点分析、线分析、面分析.能谱仪与波谱仪类似,也有点分析、线分析、面分析三种分析方式,作用与波谱仪类似,但分析速度比波谱仪快的多,其缺点是其分辨率较波谱仪稍差,常有相邻谱峰的重叠现象,使元素分析发生困难.

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